【球面检测】非球面面形检测专利技术分析

时间：2017-01-09 23:26:03 作者：王书伦；高新升；

本文作者：王书伦；高新升；成功正常投稿发表论文到《中国高新技术企业》2015年22期,引用请注明来源400期刊网！
【摘要】：非球面元件的制造必须与精确的非球面检测技术相结合才能得到合格的非球面,因此非球面光学元件的检测已经成为光学测量技术研究的前沿领域。文章主要以非球面面形检测领域的相关专利申请为研究对象进行了统计和分析,总结了该领域的专利申请量变化情况及其分布状况。
【论文正文预览】：1非球面面形检测技术简介非球面光学元件是指面型由多项式高次方程决定,面型上各点的半径各不相同的光学元件。其又分为两类:轴对称二次曲面与非轴对称曲面(柱面)。非球面光学元件是一种非常重要的光学元件,它可以获得球面光学元件所无可比拟的成像质量,在光学系统中能够很好
【文章分类号】：TH74
【稿件关键词】：非球面光学元件面形检测专利技术专利申请量光学测量技术光学系统
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【稿件标题】：【球面检测】非球面面形检测专利技术分析
【作者单位】：国家知识产权局专利局专利审查协作江苏中心光电部计量室;
【发表期刊期数】：《中国高新技术企业》2015年22期
【期刊简介】：《中国高新技术企业》为国家级学术期刊，1994年创刊，国内统一刊号：CN11-4406/N，国际标准刊号：ISSN1009-2374，邮发代号：80－930，半月刊，定价15元，面向国内外公开发行。系CNKI中国期刊全文数据库（中国知网）、万方数据库、中国核心期刊（遴选）数据库......更多中国高新技术企业杂志社(http://www.400qikan.com/qk/953/)投稿信息
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